由沈陽材料科學(xué)國家（聯(lián)合）實驗室劉志權(quán)研究員參與國際合作開發(fā)的三維透射電鏡成像技術(shù)（3D-OMiTEM: Three dimensional orientation mapping in the transmission electron microscope）被美國顯微學(xué)會（Microscopy Society of America）評為2012年度創(chuàng)新獎，并于8月1日在美國Phoenix舉辦的Microscopy & Microanalysis 2012大會上頒獎。該獎項每年由美國顯微學(xué)會在全球范圍內(nèi)征集最近一年內(nèi)顯微學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新成果，最終評選出10項在年度大會上頒獎。
3D-OMiTEM的研究成果于2011年5月發(fā)表在Science 332(2011)833上，因可以在1納米精度下無損表征塊體納米材料的三維取向而獲此殊榮。此前，該項成果還被美國材料研究學(xué)會（Materials Research Society (MRS)）評為2011年度材料科學(xué)領(lǐng)域十大亮點之一。
